铁磁共振法测量磁性薄膜的饱和磁化强度

【摘要】 <正> 一、引言在磁性薄膜的研究中,准确地测出其饱和磁化强度M_s是一个急待解决的问题。如采用通常的测量方法(如磁秤法,振动样品磁强计法等),将遇到一定的困难,因为磁性薄膜的密度是很难测准的。用铁磁共振法测量M_s,的最大优点在于它能方便地、准确地直接测出M_s,而无需测量样品的密度。因此,这个方法对测磁性薄膜样品尤有好处。但用一般的铁更多还原