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高纯VPE-GaAs、LPE-GaAs的电学性质

Electron Mobility of High Purity VPE-GaAs and LPE-GaAs

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【作者】 徐寿定李瑞云

【Author】 Xu Shouding/Institute of Semiconductors, Academia Sinica Li Ruiyun/Institute of Semiconductors, Academia Sinica

【机构】 中国科学院半导体研究所中国科学院半导体研究所

【摘要】 用Van der Pauw法测量高纯VPE-GaAs和LPE-GaAs样品在20—300K温度范围内的电学性质,分析了它们的电子散射机理.最纯的VPE-GaAs样品峰值迁移率高达3.76×105cm2/V·s,LPE-GaAs样品的峰值迁移率为2.54×105Cm3/V·s.这两个样品的总离化杂质浓度分别为 7.7 × 1013cm-3和 1.55 ×1014cm-3.

【Abstract】 Electrical properties of high purity VPE-GaAs and LPE-GaAs have been measured by using Van der Pauw method at a temperature range of 20 K to 300 K, their scatteringmechanism has also been analysed.The highest peak mobility obtained in our laboratoryis 3.76×10~5cm~2/V.s for VPE-GaAs and 2.54×10~5 cm~2/V.s for LPE-GaAs respectively.

  • 【文献出处】 半导体学报 ,Chinese Journal of Semiconductors , 编辑部邮箱 ,1983年04期
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