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双折射法测定晶体折射率

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【摘要】 <正> 双折射法测定晶体折射率是基于晶体的双折射效应原理建立的一种方法。它借助弗氏旋转台,当转角为 α 时,可在镜下测出位于晶片下细直线象的位移距离 d,若已知晶片厚度 t,晶体的折射率可按下式计算

  • 【文献出处】 人工晶体 ,Journal of Synthetic Crystals , 编辑部邮箱 ,1982年Z1期
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