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单块铌酸锂电光Q开关晶体的激光损伤

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【摘要】 <正> 本实验的目的是研究三种结构类型的单块铌酸锂电光开关晶体(单45°,双45°和矩形截面加偏振膜结构)表面和体内激光损伤阈值与激光重复率,表面光洁度,晶体质量,表面镀层等因素的关系并寻求提高晶体抗损伤能力的措施。实验发现,对于单45°和双45°铌酸锂 Q 开关晶体,45°內全反射面最易出现激光损伤。当功率密度加大时,入射和出射表面也相继出现损伤。矩形晶体一般在入射和出射表面同时

  • 【文献出处】 人工晶体 ,Journal of Synthetic Crystals , 编辑部邮箱 ,1982年Z1期
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