Cr³⁺在YAG:Nd中的选择性分布及对晶格畸变的影响

【摘要】 <正> 利用 D-9CX 光衍射仪,CuKα,LiF 单色晶,阶梯扫描定点记数法测量多晶粉末强度比,然后利用结构因子法计算出对 Cr³分布较敏感的有关晶面强度与实际测量值比较。实验中观察到 Cr³⁺的分布在 Cr/Nd≈1-1.33前呈现有优占性。如在{110}中,某晶面增强时,与其成90°的同族晶面就相应减小。其优选性达计算极限值的90%,在 Cr/Nd>1-1.33(对应晶格更多还原