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光纤和自聚焦透镜的端面检查
【摘要】 本文描述了自聚焦透镜的一种检查方法,用来测定光纤和自聚焦透镜的端面质量,同时可测定光纤的数值孔径(NA)。该方法简单易于操作,适用于设备较小的条件下使用。
- 【文献出处】 四川激光 , 编辑部邮箱 ,1982年01期
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【摘要】 本文描述了自聚焦透镜的一种检查方法,用来测定光纤和自聚焦透镜的端面质量,同时可测定光纤的数值孔径(NA)。该方法简单易于操作,适用于设备较小的条件下使用。