X射线荧光分析中基本参数法的应用

【摘要】 <正> 采用基本参数法校正基体效应,需作如下假设:样品均匀、无限厚且表面光滑。 本工作依据的公式是文献[1]的(9)式。计算中使用了相对强度,采用的迭代公式是文献[2]的(A-3)式。 首先测量标准样品和未知样品中被分析元素的某一特征X射线强度,使用相对强度和标准样品中该元素的浓度值,代入μ、ω、J等基本参数和初级激发谱分布数据,利用上述公式,用“迭代法”计算出未知样更多还原