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固体径迹的闪电蚀刻法

The lightning etching method for solid state track detectors

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【作者】 孟武邓新绿张鹏发孙盛芬

【Author】 Meng Wu Deng Xinlu Zhang Pengfa Sun Shengfen (Institute of Atomic Energy, Academia Sinica)

【机构】 中国科学院原子能研究所中国科学院原子能研究所

【摘要】 <正> 固体径迹探测器已在核物理、天体物理、生物剂量学、地质年代学等许多领域得到应用。为了使微粒子留下的辐射损伤痕迹能放大到可以用显微镜观察的程度,一般都要有一个化学蚀刻过程。为了使不同的探测器材料都得到清晰的径迹,人们进行了大量的实验,得到各种探测器的最佳蚀刻条件。这种只用化学手段的蚀刻方法称为常规蚀刻。若干年来,人们也进行了许多新的蚀刻方法的探索。如Crawford等人利用紫外光增敏的实验;Blanford利用火花放电增强蚀刻作用的实验;以及Tommasino利用脉冲高压或正弦波高压增强蚀刻作用的实验(即所谓电化学蚀刻法)等。

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