用电子湮灭方法测位错密度

【摘要】 <正> 前言 晶体缺陷的研究目前已经突破范性形变这一传统领域,渗透到金属、固体电磁性能方面,但它的测量方法始终在探讨,主要的常用方法有金相显微镜及X射线法。近年来采用电子显微镜,不仅可测位错密度,且能直接观察缺陷的形态。但存在的共同问题是这些方法均受到试样制备的限制,而且试样表面位错密度与体内有差异,尤其是当缺更多还原