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单一光学平板作为激光束剪切干涉元件的几个问题
【摘要】 本文从检测干涉条纹的精度与质量出发,讨论了光学平板作为剪切干涉元件本身若干技术问题,其中包括平板平行度,平板表面局部误差以及两表面膜层反射率的匹配等。
- 【文献出处】 光学仪器 ,Optical Instruments , 编辑部邮箱 ,1981年04期
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【摘要】 本文从检测干涉条纹的精度与质量出发,讨论了光学平板作为剪切干涉元件本身若干技术问题,其中包括平板平行度,平板表面局部误差以及两表面膜层反射率的匹配等。