粉末X-射线衍射法定量分析无机分子化合物

【摘要】 <正> 一、前言早在1919年,Hull就指出了利用X经-射线衍射技术(以下简称XRD)对分子化合物进行定量分析的可能性。但是,由于X-射线强度的稳定性和测量的精度不够,直到1936年Clark等,才首先利用XRD测定了大气尘埃中石英的含量。1945年用盖革计数管做检测器的XRD仪出现后,大大改善了X-射线强度测量的精度和灵敏度,加上X-射线光源的稳定性也不断提高,为XRD定量分析的研究和应用提供了实验基础。此后,尽管XRD定量分析,在精度和灵敏度还有待进一步提高,但是由于它是一种非破坏性分析方法,它可以直接对分子化合物进行定性、定量测定。随着科学技术的发展,特别是催化、半导体、环保及新材料等方面的研究工作的需要,不仅希望提供物质元素组成的情况,而且需要提供元素价态,组成分子的种类和数量等等物质结构状更多还原