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用HCl加热氧化法制备优质栅氧化物介质的实验

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【作者】 曹寿武

【机构】 南京工学院

【摘要】 栅氧化物介质是MOS电路制作中的关键工艺之一。近年来大量地报告了有关在热生长栅氧化物介质时将氧或氧化物适量地添加到氧化气氛中去。证实了可以获得优质的栅氧化物介质,HCl氧化法就是其中方法之一。我们在鼓泡法基础上利用不同温度下HCl的PHCl值的不同,对HCl进行加热,实现了简便地控制优质栅氧化物介质的目的。大量实验证明这是切实可行的。

【关键词】 HCl热氧化电路制作氧化气氛纯氮气位流奥温舜化扫炉毛伊
  • 【文献出处】 电子器件 ,Journal of Electron Devices , 编辑部邮箱 ,1981年04期
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