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国产常用半导体器件的低温性能

LOW TEMPERATURE CHARACTERESTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICES

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【作者】 吴柏枚阮耀钟王克勤黄伟

【Author】 Wu Bai-mei, Ruan Yao-zhong, Wang Ke-qin and Huang Wei (China University of Science and Technology)

【机构】 中国科学技术大学中国科学技术大学

【摘要】 本文给出了若干国产常用二极管、场效应管等半导体器件在液氮、液氦温度下的特性曲线。并对半导体器件在低温下的应用提出了几点看法。

【Abstract】 Several characteristic curves of some China-made, common diodes and FET at the LN2 and LHe temperatures are given. Some comments on the applications of these semiconductor devices in low temperatures are presented.

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