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GaAs—Ga1-xAlxAs双异质结激光器的深能级荧光《详细摘要》

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【摘要】 <正> 一、实验实验用的激光器是从n-GaAs:Te衬底上生长一个比较厚的缓冲层(10~20μ)然后再进行多层外延生长得到的。典型的数据为N-Ga0.7Al0.3As∶Sn~2μ,P-GaAs∶Si~0.5μ,P-Ga0.7Al0.3As∶Ge~2μ,p-GaAs∶Ge~2μ。实验装置如图〈1〉。红外显微镜将激光器的端面象投影在狭缝上。激光器的结平面在X-Z平面内,狭缝的长轴沿Z方向,PbS探

  • 【文献出处】 半导体光电 ,Semiconductor Optoelectronics , 编辑部邮箱 ,1981年02期
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