钆镓石榴石单晶缺陷的X射线形貌观测

【摘要】 一、引 言 作为电子计算机的逻辑运算和记忆元件的磁泡器件是在非磁性石榴石材料上外延生长一层磁性石榴石膜而制成.在这样的磁性膜上,可通过适当的手段使磁泡畴很容易产生、传递和消失.钆镓石榴石晶体(以下简称GGG)已成为这种磁泡器件的重要的基底材料.外延生长磁膜时.基底晶体的不完整性会影响外延膜的质量.特别是磁泡在膜内的快速运动,更要求外延膜有极高的完整性.如果单晶衬底中存在缺陷.特别是当暴露在表面上的缺陷延伸到外延膜中时,那么磁泡的运动将受到更严重的阻碍.因而提高GGG晶体的完整性就有着特别重要的意义.GGG单晶中的主要缺陷有生长条纹、位错、包裹物和核心[1]. 应用X射线形貌方法可以观察GGG中更多还原