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X光强度测量中的统计误差

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【作者】 江超华

【机构】 北京大学化学系

【摘要】 <正> 直接从 X-光衍射仪得到的原始数据,是对应于样品一系列衍射(和散射)方向的 X 光强度数据。这些数据,无论在准确性或重现性以及精细程度上,一般都比照相方法所得的数据好得多。但是,对于多晶 X 光衍射仪,X 光强度测值除了受仪器校直不良、计数系统的计数损失、样品制备不妥以及类似的误差来源的影响之外,还受两个统计性质因素的限制。由此引起的误差

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