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检验光学元件的新方法——夹层全息法

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【作者】 陈兰英； 冯大任； 邹海兴；

【机构】 上海光学精密机械研究所； 上海光学精密机械研究所；

【摘要】 夹层全息术是为判别形变矢方向而发展起来的一种新型全息术。一般用于漫射体的形变测量。文中采用“相位”漫射屏法,使夹层全息术推广使用于光学元件参数的测量,特别是小相对孔径、长焦距物镜的测量。文中分析了夹层全息的测量精度,精度可达0.3%,并与其他测量方法作了比较。

【关键词】 光学元件； 漫射体； 球面波； 曲率半径； 相对孔径； 形变测量； 干涉法； 长焦距； 测量精度； 元件参数；
  • 【文献出处】 光学仪器 ,Optical Instruments , 编辑部邮箱 ,1980年02期
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