YAG:Nd³⁺晶体中的缀饰位错

【摘要】 <正>众所周知,人们为了观测晶体中的位错分布,常采用缀饰法,即在晶体内人为掺入一种杂质原子使其沉积在位错线上而用光学显微镜以观察被缀饰的位错.但在实际生长晶体的过程中,常会自身产生过饱和点缺陷以及杂质原子对位错的缀饰效应.J.W.Matthew以及W.T.Stacg对钇镓石榴石（GGG）晶体的研究工作指出了在晶体中存在着各种形态的缀饰位错,并有害于晶体的质量.有关YAG:Nd³⁺晶体中有否这类缺陷很少报导.我们在近两年来用超显微法观测了一批引上法生长的YAG:Nd³⁺晶体,发现在一部分晶体中存在着缀饰的位错线及位诸环,其形态有多种,如直线、折线、螺旋更多还原