电子束器件加速寿命试验的机理分析

【摘要】 <正> 寿命试验是鑑定器件质量和检查材料、工艺的一种有效方法:它是电子器件例行试验中必须进行的主要试验项目。随着电子器件质量的不断提高,加上新工艺,新材料的不断使用,其寿命增加很快,普遍地将达到10000小时以上的水平。在这种情况下,用常规的寿命试验方法来鑑定电子器件质量和检查材料,工艺性能是远远不能满足生产上的要求。我们很希望用一种快速的寿命试验方法来代替常规的试验方法,这样才能及时地指导生产,并加快长寿命材料、工艺的研究步伐。 加速寿命试验方法在一些电子器件中已经有效地加以应用更多还原