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薄膜隧道结的漏洞分析和金相筛选法

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【作者】 孟小凡； 郭维新； 崔广霁；

【机构】 北京大学物理系； 北京大学物理系；

【摘要】 本文用典型隧道结与超导微桥叠加的模型讨论了漏洞对薄膜隧道结I-V曲线的影响,分析了漏洞产生的原因及其防止措施,提出了可以显著提高低温实验时隧道结成品率的简便方法——金相筛选法.

【关键词】 隧道结； 筛选法； 超导微桥； 漏洞分析； 金相； 辉光放电； 结电阻； 超导电流； 膜表面； 量子位；
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