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发表年份
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序号
题名
作者
文献来源
发表年份
被引频次
下载频次
1
我国相变存储器的研究现状与发展前景
刘波;宋志棠;封松林;
微纳电子技术
2007
2
177
2
用于相变存储器的W亚微米管加热电极性能
冯高明;刘波;吴良才;宋志棠;封松林;陈宝明;
半导体学报
2007
1
34
3
一种高精度CMOS带隙基准电压源设计
沈菊;宋志棠;刘波;封松林;朱加兵;
半导体技术
2007
1
138
4
65nm工艺节点下的光刻掩模版优化算法
熊伟;张进宇;Tsai Min-Chun;王燕;余志平;
计算机辅助设计与图形学学报
2008
0
22
5
相变存储器驱动电路的设计与实现
沈菊;宋志棠;刘波;封松林;
半导体技术
2008
0
49
6
基于Sn掺杂Ge_2Sb_2Te_5的相变存储器器件单元存储性能
徐成;刘波;冯高明;吴良才;宋志棠;封松林;Bomy Chen;
功能材料与器件学报
2008
0
28
7
相变随机存储器材料与结构设计最新进展
刘波;宋志棠;封松林;
半导体技术
2008
0
62
8
Accurate and fast table look-up models for leakage current analysis in 65nm CMOS technology
薛冀颖;李涛;余志平;
半导体学报
2009
0
14
9
Trapped Electron and Hole Distribution Mismatch Induced Reliability Degradation of SONOS Type Memory Devices
史广建;潘立阳;孙磊;张志刚;许军;
Tsinghua Science and Technology
2009
0
5
10
ILT Approach for Compensating 3-D Mask Effects
熊伟;张进宇;Min-Chun Tsai;王燕;余志平;
Tsinghua Science and Technology
2009
0
3
11
考虑制程变异的全芯片漏电流统计分析
李涛;余志平;
清华大学学报(自然科学版)
2009
0
13