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1 Identification of SEU Sensitive Region of CMOS SRAM Using Heavy Ion Microbeam - Annual Report for China Institute of Atomic Energy 2005 0 16
2 利用重离子微束确定国产2K SRAM单粒子翻转敏感区域 郭刚;惠宁;陈泉;沈东军;许谨诚;贺朝会;郭红霞;李永宏;罗尹虹;姚志斌;张风祁;苏秀娣;李巍; 中国原子能科学研究院年报 2005 0 34
3 Heavy-ion Microbeam Irradiation Facility - Annual Report for China Institute of Atomic Energy 2004 0 1
4 Charge Collection Induced by Heavy-ion Microbeam on p~+n Junction - Annual Report for China Institute of Atomic Energy 2004 0 1
5 重离子微束辐照装置 郭刚 ,沈东军 ,许谨诚 ,陈泉 ,惠宁 ,郭红英 中国原子能科学研究院年报 2004 0 17
6 利用微束进行pn结二极管的电荷收集实验研究 郭刚 ,惠宁 ,沈东军 ,许谨诚 ,陈泉 中国原子能科学研究院年报 2004 0 10