乔瑞军
【姓名】 乔瑞军
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;仪器仪表工业;
【研究方向】 光学仪器与图象处理研究
【发表文献关键词】 精密刻划,测量相机,主距,主点,CCD探测器,元素分解,精密定位,畸变,图象处理,刻线,CCD细分,十字丝,内方位元素,畸变曲线,亚象素,瞄准精度,系统畸变,重复性误差,瞄准定位,线性误差,光学系统,...
【工作单位】 中国科学院光电技术研究所
【曾工作单位】 中国科学院光电技术研究所;
【所在地域】 四川成都
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[1]乔瑞军,沈忙作.CCD细分技术用于刻线的自动瞄准[J]光电工程.1999,(01)
[2]乔瑞军,沈忙作.测量相机内方位元素及畸变的计算方法[J]光电工程.1999,(06)
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