齐从明
【姓名】 齐从明
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 失效模式,质量一致性,双极电路,失效机理,氧化层缺陷,电路,类试验,电路质量,电路失效,失效分析,芯片,电老化,铝条,铝腐蚀,塑封,特性退化,致性,试验失效,残铝,溶剂试验,
【工作单位】 中国华晶电子集团公司
【曾工作单位】 中国华晶电子集团公司;
【所在地域】 无锡
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[1]崔文兵,齐从明.双极电路质量一致性检验常见失效模式研究[J]微电子技术.1995,(01)
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