我的机构馆
退出
数字图书馆首页
CNKI首页
浏览器下载
帮助
章慧彬
【姓名】
章慧彬
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;电力工业;计算机硬件技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】
Testing house,ADC,DAC,AIC,生产统计,开关电容滤波器,生产计划,物流管理,电路测试技术,声转,开关电容,低通滤波器,管脚,D/A转换器,电路,抗混叠,生产测试,带通滤波器,模拟...
【工作单位】
中国电子科技集团第五十八研究所
【曾工作单位】
中国电子科技集团第五十八研究所;
【所在地域】
江苏无锡
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
第一作者篇数
总被引频次
总下载频次
0
/
14
0
0
4
35
1242
文献数(该学者统计年度当年发文总文献数)
被引频次(该学者统计年度当年发文总被引频次)
浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到12篇
[1]马勇;虞勇坚;解维坤;邹巧云;张凯虹;章慧彬;.
基于缺陷检测的多芯片塑封光耦器件开封方法
[J]电子元器件与信息技术.2021,(01)
[2]程法勇;章慧彬;.
基于ATE的大功率功放电路功率测试技术研究
[J]电子质量.2020,(01)
[3]章慧彬;.
测试成本的挑战及对策
[J]电子与封装.2018,(05)
[4]章慧彬;朱江;.
大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用
[J]电子与封装.2017,(06)
[5]赵桦;章慧彬;.
基于ATE的FPGA配置文件生成方法
[J]电子与封装.2015,(07)
[6]赵桦;章慧彬;.
基于JC-5600ATE的单/双电源运算放大器测试方法
[J]电子与封装.2014,(04)
[7]解维坤;万清;章慧彬;.
基于测试系统的FPGA测试方法研究
[J]电子与封装.2013,(05)
[8]管光宝;尹颖;章慧彬;.
IC长贮存寿命评价方法
[J]电子与封装.2013,(09)
[9]柴海峰;朱卫良;章慧彬;武乾文;.
LVDS(低压差分信号)测试技术研究
[J]电子与封装.2011,(11)
[10]封晴;章慧彬;夏光;.
SRAM静态低功耗设计
[J]电子与封装.2008,(11)
更多
研究方向相近的学者
(学者,学者单位)
郑志忠
吉林大学
纪宗南
南京航空航天大学
王赤虎
西安交通大学
胡湘江
中国人民解放军国防科学技术大...
郭良权
中国电子科技集团第五十八研究...
徐德生
中国电子科技集团第五十八研究...
更多
合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
郭良权
中国电子科技集团第五十八...
2
屠莉敏
中国电子科技集团第五十八...
1
徐德生
中国电子科技集团第五十八...
1
更多