李光平
【姓名】 李光平
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;金属学及金属工艺;化学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 富磷,扫描光荧光谱,表面硫钝化,光荧光谱,发光效率,磷化铟,GaAs表面,GaAs,位错密度,S钝化,InP单晶,硫钝化,Na_2,熔体,荧光特性,样品表,科技集团,光荧光,中国电子,单晶,复合速度,...
【工作单位】 中国电子科技集团第四十六研究所
【曾工作单位】 中国电子科技集团第四十六研究所;
【所在地域】 天津55信箱
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中国期刊全文数据库    共找到6篇
[1]董彦辉;李光平;郑庆瑜;.X射线荧光法快速测定蒙脱石(固态)中的铝含量[J]现代仪器.2011,(02)
[2]董彦辉;李光平;郑庆瑜;.X荧光更换X光管后定量测试方法研究[J]现代仪器.2011,(04)
[3]董彦辉;李光平;郑庆瑜;.X荧光光谱在溅射工艺研究中的应用[J]现代仪器.2009,(04)
[4]李静,任殿胜,李光平,严如岳,汝琼娜,董颜辉.Na_2S钝化的GaAs表面光荧光特性的研究[J]现代仪器.2003,(04)
[5]周晓龙,安娜,孙聂枫,徐永强,杨光耀,谢德良,刘二海,李光平,周智慧,董彦辉,孙同年.富磷熔体中生长的φ100 mm掺硫InP单晶研究[J]固体电子学研究与进展.2004,(01)
[6]董彦辉,李光平,郑庆瑜.X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量[J]现代仪器.2005,(06)
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中国重要会议全文数据库    共找到6篇
[1]汝琼娜;李光平;何秀坤;李静;.硅中氧、碳微区测量技术的研究[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[2]李光平;何秀坤;王琴;李晓波;阎平;汝琼娜;郑驹;.近代低温FT—IR技术及其在半导体分析中的应用[A].第四届理化分析经验交流会论文集（下册）.1990-07-01
[3]李光平;汝琼娜;李静;何秀坤;杨瑞霞;.用红外光谱吸收法测定未掺杂半绝缘GaAs中碳浓度和电离EL2浓度及其相互关系[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[4]汝琼娜;李光平;何秀坤;.热处理前后SI-GaAg中EL2浓度二维分布的对比研究[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[5]何秀坤;汝琼娜;李光平;.薄片SI-GaAs碳和EL2浓度的测量方法研究[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[6]李光平;何秀坤;王琴;李晓波;阎平;汝琼娜;郑驹;.近代低温FT-IR技术及其在半导体分析中的应用[A].中国电子学会生产技术学会理化分析四届年会论文集下册.1991-10-01
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