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何秀坤
【姓名】
何秀坤
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;电力工业;无机化工;
【研究方向】
【发表文献关键词】
GaN薄膜,生长气氛,发光特性,光荧光,缓冲层,谱仪,扫描电子显微镜,掺硅,积分强度,发光强度,n型,掺杂浓度,表面形貌,谱图,实验证明,外延层,光峰,光荧光谱,AlN缓冲层,科技集团,
【工作单位】
中国电子科技集团第四十六研究所
【曾工作单位】
中国电子科技集团第四十六研究所;
【所在地域】
天津
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
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总被引频次
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下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到8篇
[1]丁丽;严如岳;何秀坤;李宝珠;李雨辰;何友琴;马农农;章安辉;刘立娜;.
Si_3N_4钝化层质量分析研究
[J]半导体技术.2009,(02)
[2]秦涛;何秀坤;董彦辉;李劼;.
半绝缘半导体切片电阻率无接触测定方法研究
[J]电子科技.2009,(05)
[3]李劼;章安辉;何秀坤;曹全喜;秦涛;.
用体式显微镜研究SiC单晶中的微管缺陷
[J]电子科技.2009,(05)
[4]刘锋;毛陆虹;韩焕鹏;王义猛;李丹;何秀坤;.
SiGe合金单晶生长研究
[J]半导体技术.2009,(04)
[5]陈密惠;何秀坤;马农农;曹全喜;.
硅中磷杂质的SIMS定量检测
[J]电子科技.2010,(09)
[6]李静;那顺;何秀坤;.
GC—MS法测定液态松香助焊剂中邻苯二甲酸酯类物质
[J]现代仪器.2010,(01)
[7]李静;何秀坤;那顺;蔺娴;.
GC-MS法测定水溶性树脂漆中的甲醛含量
[J]现代仪器.2008,(05)
[8]李静,冯倩,何秀坤,汝琼娜,周智慧.
GaN薄膜发光特性的研究
[J]微纳电子技术.2005,(05)
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中国重要会议全文数据库
共找到6篇
[1]汝琼娜;李光平;何秀坤;李静;.
硅中氧、碳微区测量技术的研究
[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[2]李光平;何秀坤;王琴;李晓波;阎平;汝琼娜;郑驹;.
近代低温FT—IR技术及其在半导体分析中的应用
[A].第四届理化分析经验交流会论文集(下册).1990-07-01
[3]李光平;汝琼娜;李静;何秀坤;杨瑞霞;.
用红外光谱吸收法测定未掺杂半绝缘GaAs中碳浓度和电离EL2浓度及其相互关系
[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[4]汝琼娜;李光平;何秀坤;.
热处理前后SI-GaAg中EL2浓度二维分布的对比研究
[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[5]何秀坤;汝琼娜;李光平;.
薄片SI-GaAs碳和EL2浓度的测量方法研究
[A].第五届华北、东北地区理化会议论文集.1993-09-01
[6]李光平;何秀坤;王琴;李晓波;阎平;汝琼娜;郑驹;.
近代低温FT-IR技术及其在半导体分析中的应用
[A].中国电子学会生产技术学会理化分析四届年会论文集下册.1991-10-01
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