卜皎
【姓名】 卜皎
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 栅氧可靠性,击穿电压,击穿电量,电压扫描,电流扫描,两种方法,工艺,测试方法,方法评价,评价标准,获得,曲线拟合,两个参数,常用方法,扫描法,斜率,可靠性评价,发现,对比,电压曲线,
【工作单位】 上海华虹NEC电子有限公司
【曾工作单位】 上海华虹NEC电子有限公司;
【所在地域】 上海
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[1]王鹏;卜皎;刘玉伟;曹刚;石艳玲;刘春玲;李菲;孙玲玲;.HDP介质淀积引起的等离子充电损伤机制研究[J]电子器件.2009,(03)
[2]赵毅;万星拱;徐向明;曹刚;卜皎;.用不同方法评价0.18μm CMOS工艺栅氧击穿电压和击穿电量(英文)[J]半导体学报.2006,(02)
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