王秋花
【姓名】 王秋花
【职称】
【研究领域】 物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 膜厚,P蚀刻法,SiO2膜,玻璃基片,SiO_2膜,膜层厚度,蚀刻剂,蚀刻法,层厚度,蚀刻速度,秦皇,镀膜玻璃,蚀刻速率,椭偏仪测量,射频溅射,钠钙玻璃,表面轮廓仪,样片,台阶,镀膜,
【工作单位】 秦皇岛莱成电子有限公司
【曾工作单位】 秦皇岛莱成电子有限公司;
【所在地域】 河北秦皇岛
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/1 0 0 0 3 175
中国期刊全文数据库    共找到1篇
[1]汤安东,王秋花,郑月景,刘瑞川.玻璃基片上SiO_2膜层厚度的测量方法[J]光学技术.1999,(06)
更多