徐征
【姓名】 徐征
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 MOS,输入,保护,栅氧化层,TDDB,模型,VLSI制造,输入保护电路,自对准硅化物,可靠性评价,硅化物,亚微米集成电路,专用集成电路,硅化物工艺,IC工艺,自对准,硅化钛,CMOS器件,参数提取,...
【工作单位】 江苏省无锡微电子科研中心
【曾工作单位】 江苏省无锡微电子科研中心;
【所在地域】 江苏无锡
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/3 2 1 0 10 370
中国期刊全文数据库    共找到3篇
[1]于宗光,叶守银,夏树荣,徐征,杨功成.一种正负输入电压ASIC的输入保护电路设计[J]半导体技术.2000,(03)
[2]恩云飞,孔学东,徐征,赵文斌.栅氧化层TDDB可靠性评价试验及模型参数提取[J]电子产品可靠性与环境试验.2002,(01)
[3]王万业,徐征,刘逵.亚微米CMOSIC中自对准硅化物工艺的研究[J]微电子学.2002,(05)
更多