戴明棣
【姓名】 戴明棣
【职称】
【研究领域】 仪器仪表工业;
【研究方向】
【发表文献关键词】 磁粉探伤,黑度,底片质量,底片,磁粉,射线照像,探伤设备,磁痕,敏度,探伤,对比度,底片黑度,清晰度,发展现状,缺陷数,缺陷显示,黑皮,裂纹高度,硅橡胶,射线探伤,透明胶带,相对灵敏度,探伤标准,探伤...
【工作单位】 东北电业管理局
【曾工作单位】 东北电业管理局;
【所在地域】
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/2 0 0 2 0 294
中国期刊全文数据库    共找到2篇
[1]戴明棣.黑度对射线照像底片质量的影响[J]无损探伤.1999,(01)
[2]戴明棣.磁粉探伤发展现状与展望[J]无损探伤.1996,(06)
更多