何细华
【姓名】 何细华
【职称】
【研究领域】 化学;地质学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 塞曼,磁场模式,背景校正技术,VITA,TOC分析,原子吸收,场强度,敏度,原子吸收光谱,塞曼效应,特斯拉,反常塞曼效应,正常塞曼效应,流速,校正曲线,背景校正,吸收信号,调磁,塞曼分裂,裂距,组分,...
【工作单位】 德国耶拿分析仪器股份公司
【曾工作单位】 德国耶拿分析仪器股份公司;
【所在地域】 北京
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[1]何细华.一种TOC分析中的特殊技术-VITA的介绍[J]现代科学仪器.2004,(01)
[2]何细华.一种TOC分析中的特殊技术——VITA~的介绍[J]岩矿测试.2004,(03)
[3]何细华.一种TOC分析中的特殊技术——VITA的介绍[J]生命科学仪器.2004,(03)
[4]何细华,赵泰.原子吸收中的三磁场塞曼背景校正技术[J]现代科学仪器.2002,(04)
[5]赵泰,何细华.原子吸收光谱中的三磁场塞曼背景校正技术[J]理化检验(化学分册).2002,(08)
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