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刘红艳
【姓名】
刘红艳
【职称】
工程师;
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
硅片清洗及检测
【发表文献关键词】
硅片清洗,硅片表面微观状态,硅片,H2O2,清洗液,金属沾污,清洗工艺,NH4OH,氧化膜,除硅,颗粒,氧化还原电位,微粗糙度,洗硅,新发,臭氧,氧化层,清洗溶液,粒子,负电性,
【工作单位】
北京有色金属研究总院有研半导体材料股份有限公司
【曾工作单位】
北京有色金属研究总院有研半导体材料股份有限公司;
【所在地域】
北京
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学术成果产出明细表
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共找到4篇
[1]黄栋栋;曲翔;刘大力;周旗钢;刘斌;刘红艳;.
多晶硅沉积厚度对氧沉淀和洁净区形成的影响
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[2]李耀东;库黎明;刘斌;王新;郑琪;刘红艳;.
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[J]半导体技术.2016,(11)
[3]闫志瑞;李俊峰;刘红艳;张静;李莉;.
HF/O_3在300mm硅片清洗中的应用
[J]半导体技术.2006,(02)
[4]刘红艳,万关良,闫志瑞.
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