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肖清华
【姓名】
肖清华
【职称】
高级工程师;
【研究领域】
无线电电子学;金属学及金属工艺;无机化工;
【研究方向】
半导体硅材料
【发表文献关键词】
片状缺陷,硅片键合与减薄,SOI,外延层转移,智能剥离,注氧隔离,损伤层,恒定腐蚀,双晶衍射仪,300mm硅片,氢,硅,高分辨电子显微术(HREM),多孔硅,双面磨削,损伤带,厚度检测,腐蚀法,SOI...
【工作单位】
北京有色金属研究总院有研半导体材料股份有限公司
【曾工作单位】
北京有色金属研究总院有研半导体材料股份有限公司;
【所在地域】
北京
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学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到9篇
[1]杨娟玉;卢世刚;肖清华;张向军;.
片状纳米硅的结构及发光性能表征
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[2]肖清华;王敬欣;.
卢瑟福背散射谱和红外干涉反射谱研究冷注入锗离子对单晶硅的损伤
[J]稀有金属.2009,(06)
[3]陈海滨;周旗钢;万关良;肖清华;.
300mm双面磨削硅片损伤层厚度检测
[J]稀有金属.2006,(S2)
[4]高宇;周旗钢;戴小林;肖清华;.
300mm硅单晶生长过程中热弹性应力的数值分析
[J]稀有金属.2007,(05)
[5]陈海滨;周旗钢;万关良;肖清华;.
300mm双面磨削硅片表面纹路模拟
[J]稀有金属.2007,(06)
[6]黄军辉;周旗钢;万关良;肖清华;库黎明;.
300mm硅片双面抛光运动轨迹模拟和优化
[J]稀有金属.2007,(06)
[7]韩海建;周旗钢;戴小林;肖清华;.
掺氮对300mm单晶硅中流动图形缺陷和氧化诱生层错的影响
[J]稀有金属.2007,(06)
[8]肖清华,屠海令,邵贝羚,王敬.
注氢硅片中片状缺陷的结构特征及其深度分布的高分辨电镜研究
[J]电子显微学报.2004,(03)
[9]肖清华,屠海令,周旗钢,王敬,常青,张果虎.
SOI材料的制备技术
[J]稀有金属.2002,(06)
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