谢世环
【姓名】 谢世环
【职称】
【研究领域】 计算机硬件技术;计算机软件及计算机应用;
【研究方向】 安全软件测试评估
【发表文献关键词】 NAND Flash,均匀损耗,软件测试,YAFFS,文件系统,嵌入式系统,测试结果,掉电保护,保护方式,新文件,在线测试,改进方案,测试方案,恢复,应用环境,擦写,模拟,大容量,存储器,使用寿命,
【工作单位】 同济大学
【曾工作单位】 同济大学;
【所在地域】 上海
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[1]胡一飞;徐中伟;谢世环;.NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试[J]单片机与嵌入式系统应用.2007,(03)
[2]谢世环;徐中伟;胡天一;.车站列控中心测试平台——通信仿真子系统研究[J]计算机技术与发展.2008,(01)
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