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袁凤坡
【姓名】
袁凤坡
【职称】
研究员;
【研究领域】
无线电电子学;物理学;金属学及金属工艺;
【研究方向】
Ⅲ-Ⅴ半导体材料的外延与质量表征以及碳化硅功率器件封装
【发表文献关键词】
AlGaN/AlN,应变分析,弛豫过程,弯曲系数,蓝宝石衬底,缓冲层,双晶衍射,外延生长,光谱分析,组分,带隙,射线衍射,透射光谱,曲线分析,拟合曲线,外延层,低温,生长条件,扫描,结构,
【工作单位】
中国电子科技集团第十三研究所
【曾工作单位】
中国电子科技集团第十三研究所;
【所在地域】
石家庄
学术成果产出统计表
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/文献篇数
核心期刊论文数
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总被引频次
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被引频次(该学者统计年度当年发文总被引频次)
浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
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4英寸硅衬底GaN发光二极管
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