李秀宇
【姓名】 李秀宇
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】 微电子器件及集成电路的可靠性研究
【发表文献关键词】 互连线,钝化层,光学相移法,应力释放,蓄水池效应,电迁移,金属离子,聚酰亚胺,失效寿命,金属化系统,通孔,应力分布,应力影响,铝膜,电阻变化率,电流密度,结构,面积,氮化硅钝化,热膨胀系数,集成电路,...
【工作单位】 北京工业大学
【曾工作单位】 北京工业大学;
【所在地域】 北京
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中国期刊全文数据库    共找到3篇
[1]李秀宇;吴月花;李志国;付厚奎;.不同钝化层对硅基铝金属膜应力影响的研究[J]半导体技术.2007,(01)
[2]李秀宇;吴月花;李志国;郭春生;刘朋飞;朱春节;.多层金属化系统中的蓄水池效应[J]半导体技术.2007,(04)
[3]郭春生;刘鹏飞;李秀宇;李志国;.1/f噪声源与其在半导体器件可靠性评估中的应用[J]环境技术.2008,(04)
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中国重要会议全文数据库    共找到2篇
[1]刘鹏飞;郭春生;李秀宇;李志国;.1/f噪声源与其在半导体可靠性评估中的应用[A].中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会论文选.2006-10-01
[2]李志国;李秀宇;朱春节;郭春生;吴月花;.VLSI/ULSI中金属化系统的蓄水池效应[A].2007'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集.2007-10-01
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