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何亮
【姓名】
何亮
【职称】
副教授;
【研究领域】
无线电电子学;物理学;电力工业;
【研究方向】
材料与元器件先进检测方法方面的研究
【发表文献关键词】
1/f噪声,光电耦合器,电流传输比,陷阱密度,低频噪声,界面态,电离辐照,PHEMT,异质结界面,漏电流,辐照效应,性能影响,噪声模型,辐照前,输入电流,载流子,发光二极管,光敏三极管,沟道,器件性能...
【工作单位】
西安电子科技大学
【曾工作单位】
西安电子科技大学;
【所在地域】
西安
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
第一作者篇数
总被引频次
总下载频次
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/
46
24
35
7
294
6611
文献数(该学者统计年度当年发文总文献数)
被引频次(该学者统计年度当年发文总被引频次)
浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到42篇
[1]胡英;何亮;董广志;.
通识类课程创新性教学实践探索
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[2]何亮;陈华;孙鹏;.
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[3]贾晓菲;魏群;张文鹏;何亮;武振华;.
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[4]胡林娜;宋志成;何亮;郭永刚;屈小勇;马继奎;.
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[5]程基宽;胡林娜;何亮;郭永刚;宋志成;屈小勇;.
基于1/f噪声表征研究非晶硅薄膜太阳电池的光致退化机理
[J]太阳能学报.2021,(05)
[6]胡英;何亮;陈华;.
“新生研讨课”——材料菁英人才的教育开篇
[J]教育教学论坛.2020,(03)
[7]贾晓菲;何亮;.
微波集成电路的低频噪声测试方法
[J]半导体技术.2019,(02)
[8]贾晓菲;陈文豪;丁兵;何亮;.
纳米MOSFET器件电流噪声测试方法研究
[J]电子元件与材料.2016,(12)
[9]张显;曹全喜;何亮;孙鹏;陈华;.
厚膜集成电路工艺校内生产实习研究
[J]实验科学与技术.2016,(02)
[10]吴勇;马中发;杜磊;何亮;.
基于低频噪声的薄膜电阻器可靠性表征方法
[J]电子科技.2014,(12)
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中国博士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]何亮.
基于噪声的金属互连电迁移表征方法研究
[D].西安电子科技大学.2011
更多
中国优秀硕士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]何亮.
金属互连电迁移可靠性的新表征参量研究
[D].西安电子科技大学.2006
更多
中国重要会议全文数据库
共找到1篇
[1]陈文豪;杜磊;包军林;刘林;陈华;李伟华;何亮;孙鹏;.
固定电阻器电流噪声系数测试标准研究
[A].中国电子学会第十六届电子元件学术年会论文集.2010-09-13
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王书海
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1
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西安电子科技大学
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