黄炳忠
【姓名】 黄炳忠
【职称】
【研究领域】 物理学;无线电电子学;自动化技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 椭圆偏振光谱,Si-SiO_2,体积分数,氮化硅膜,复介电函数,射频溅射,光学常数,椭偏光谱测量,氩原子,消光法,无定形硅,光隙,界面态,检偏器,椭圆偏振法,复数折射率,椭偏光谱,定波,自旋密度,带隙...
【工作单位】 中山大学
【曾工作单位】 中山大学;
【所在地域】 广州
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[1]莫党,陈树光,余玉贞,黄炳忠.Si-SiO_2膜的椭圆偏振光谱[J]物理学报.1980,(05)
[2]吴振辉,黄炳忠.分子束外延[J]物理.1980,(05)
[3]余玉贞;黄炳忠;.用椭偏光法研究Si-SiO_2过渡层的特性[J]中山大学学报(自然科学版).1980,(04)
[4]吴振辉,梁本镜,余秉才,黄炳忠.利用振动电容法测量SiO_2薄膜的电荷分布[J]中山大学学报(自然科学版).1983,(02)
[5]费庆宇,黄炳忠.椭圆偏振光谱测定α-Si的空位总体积分数[J]红外研究.1984,(04)
[6]费庆宇,黄炳忠.射频溅射无定形硅的总空位体积分数[J]物理学报.1985,(11)
[7]余玉贞,张世宏,黄炳忠.射频溅射生长的氮化硅膜的椭偏光谱测量[J]半导体技术.1986,(01)
[8]冯洪安,余玉贞,黄炳忠.椭偏光谱对复数折射率薄膜的研究 ITO膜光学常数的色散和生长规律[J]物理学报.1986,(03)
[9]冯洪安,黄炳忠.自动椭偏光谱仪[J]仪器仪表学报.1986,(04)
[10]黄炳忠,余玉贞,洪国光.Si-SiO_2界面的粗糙度[J]物理学报.1987,(07)
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