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[2]顾四朋,侯立松,赵启涛,黄瑞安.Thermal phase change and activation energy of crystallization of Ge-Sb-Te-Sn thin films[J]Chinese Optics Letters.2003,(12)
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[4]顾四朋,侯立松,赵启涛,黄瑞安.掺Sn的Ge_2Sb_2Te_5相变存储薄膜的光学性质[J]光学学报.2004,(06)
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[10]顾四朋,侯立松,刘波,陈静.掺杂氧的Ge-Sb-Te相变薄膜的光学性质[J]光学学报.2002,(09)
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