何立强
【姓名】 何立强
【职称】
【研究领域】 计算机硬件技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 测试向量,IEEE754,浮点,功能部件,覆盖率,向量集,数据通路,浮点部件,控制通路,测试过程,舍入,测试指令,黑盒测试,尾数部分,操作数,输入集,舍入模式,浮点操作,指数部分,操作码,
【工作单位】 中国科学院计算技术研究所
【曾工作单位】 中国科学院计算技术研究所;
【所在地域】 北京
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[1]何立强.IEEE754标准浮点测试向量的生成[J]计算机工程.2004,(19)
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