朱为国
【姓名】 朱为国
【职称】
【研究领域】 计算机硬件技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 嵌入式存储器,内建自测试,自修复,故障模型,储器,IEEE,BIST,存储单元,存储器故障,干扰故障,读操作,模式敏感故障,字线,耦合故障,逻辑值,冗余分析,测试生成算法,存储器测试,固定型故障,写逻...
【工作单位】 同济大学
【曾工作单位】 同济大学;
【所在地域】
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[1]江建慧,朱为国.嵌入式存储器的内建自测试和内建自修复[J]同济大学学报(自然科学版).2004,(08)
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