洪英
【姓名】 洪英
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 损伤分布,椭偏光,剥层,损伤度,谱法,损伤层,毛值,椭偏谱,光学常数,消光系数,离子注,层厚度,椭偏光谱,左值,体积比,有效介质,可看到,峰值位置,实验样品,阳极氧化,
【工作单位】 中山大学
【曾工作单位】 中山大学;
【所在地域】
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[1]洪英,莫党.剥层椭偏光谱法测定As~+注入Si的损伤分布[J]半导体学报.1986,(06)
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