陈宇
【姓名】 陈宇
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;无线电电子学;物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 异质结,SIMS定量分析,二次离子,面分析,方法简介,掺锌,二次离子质谱,溅射,SIMS,表面分析仪器,相对灵敏度因子,掺杂元素,定标,物理意义,主要仪器,砷化镓,表面分析,分布曲线,表面分析技术,电...
【工作单位】 兰州空间技术物理研究所
【曾工作单位】 中国空间技术研究院兰州物理研究所;
【所在地域】 兰州
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[1]陈宇;余镇江;范垂祯;.砷化镓的二次离子质谱定量分析方法[J]真空与低温.1989,(03)
[2]范垂祯,陈宇.GaAs-Al_x Ga_(1-x)As异质结的SIMS定量分析[J]真空科学与技术.1991,(02)
[3]陈宇,范垂祯.掺锌砷化镓样品的SIMS定量分析[J]半导体学报.1992,(10)
[4]周文益,许军,刘佑室,黄敞,陈宇.Ge/Pt/Au,Ge/Au/Ni/Au—n型GaAs欧姆接触的对比研究[J]微电子学与计算机.1992,(12)
[5]范垂祯;汪贵华;陈宇;.氮化钛膜AES叠峰的因子分析法分析[J]真空与低温.1992,(04)
[6]范垂祯,杨得全,陈宇.工业中的现代表面分析技术(Ⅰ) 主要仪器和方法简介[J]物理.1992,(08)
[7]陈宇;范垂祯;.覆氧条件下砷化镓表面二次离子发射机理的研究[J]真空与低温.1993,(04)
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