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[1]顾连学.高分辨时间快符合电路[J]核电子学与探测技术.1982,(05)
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[2]江立人,林金锌,王裕政,顾连学.微机在核计数系统中的应用[J]核技术.1985,(01)
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[3]王裕政,吴国栋,江立人,黄津兴,顾连学,钱春梁.延迟线读出的两维多丝正比室成像装置[J]核技术.1985,(05)
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[4]顾连学,江立人,林金锌,王裕政.微机计数器接口和数据获取程序[J]核电子学与探测技术.1986,(03)
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[5]林金锌,王裕政,江立人,顾连学,乐安全.XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪[J]核技术.1986,(07)
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[6]王裕政,林金锌,江立人,顾连学.用能量色散X荧光法测定磁盘磁层厚度[J]核技术.1986,(09)
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[7]乐安全,江立人,顾连学,徐君权,韩发生,谷英梅,林金锌.手表零件镀层测厚仪[J]核技术.1986,(12)
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[8]林金锌,王裕政,江立人,顾连学,乐安全.基于微机的磁盘磁层测厚仪[J]核电子学与探测技术.1987,(02)
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[9]王裕政,吴国栋,林金锌,钱春梁,顾连学,黄津兴.基于微机的静态放射性色层分析仪[J]核技术.1987,(12)
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[10]顾连学,乐安全,谷英梅,江立人,韩发生,林金锌.精密钛涂层测厚仪[J]核电子学与探测技术.1988,(04)
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