谢舒平
【姓名】 谢舒平
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;化学;地球物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 扫描俄歇谱仪,AES深度剖析,目标因子分析法,渐进因子分析法,化学态,目标因子分析,计算机数据系统,多层薄膜,XPS分析,俄歇,深度剖析,深度剖面分析,金属薄膜,原子氧,X射线光电子谱,渐进因子分析,...
【工作单位】 兰州空间技术物理研究所
【曾工作单位】 中国空间技术研究院兰州物理研究所;
【所在地域】 甘肃兰州
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[1]范垂祯,谢舒平,杨得全.ITO透明导电薄膜XPS深度剖面分析[J]真空与低温.2001,(01)
[2]熊玉卿,谢舒平,杨得全,达道安.原子氧密度测量技术[J]传感器技术.1999,(03)
[3]谢舒平，郭云，杨得全，范垂祯.Ti／Al多层金属薄膜AES深度剖析的目标因子分析[J]真空与低温.1995,(04)
[4]谢舒平,蒋能,杨得全,范垂祯.PHI595扫描俄歇谱仪的计算机数据处理系统改造[J]现代科学仪器.1996,(02)
[5]谢舒平,范垂祯.应用渐进因子分析法研究SiO_2/Si样品俄歇深度剖析[J]分析测试学报.1997,(05)
[6]谢舒平,杨得全,范垂祯.渐进因子分析法及其在Au/Ni/Si薄膜俄歇深度剖面研究中的应用[J]真空科学与技术.1997,(01)
[7]谢舒平,范垂祯.渐进因子分析法在 Ta_2O_5/Ta 样品俄歇深度剖析研究中的应用[J]真空与低温.1997,(03)
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