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[1]江立人,林金锌,王裕政,顾连学.微机在核计数系统中的应用[J]核技术.1985,(01)
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[2]林金锌,江立人,包于洪.一种微机多道分析和处理系统[J]核技术.1985,(02)
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[3]顾连学,江立人,林金锌,王裕政.微机计数器接口和数据获取程序[J]核电子学与探测技术.1986,(03)
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[4]林金锌,王裕政,江立人,顾连学,乐安全.XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪[J]核技术.1986,(07)
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[5]王裕政,林金锌,江立人,顾连学.用能量色散X荧光法测定磁盘磁层厚度[J]核技术.1986,(09)
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[6]乐安全,江立人,顾连学,徐君权,韩发生,谷英梅,林金锌.手表零件镀层测厚仪[J]核技术.1986,(12)
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[7]林金锌,王裕政,江立人,顾连学,乐安全.基于微机的磁盘磁层测厚仪[J]核电子学与探测技术.1987,(02)
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[8]王裕政,吴国栋,林金锌,钱春梁,顾连学,黄津兴.基于微机的静态放射性色层分析仪[J]核技术.1987,(12)
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[9]顾连学,乐安全,谷英梅,江立人,韩发生,林金锌.精密钛涂层测厚仪[J]核电子学与探测技术.1988,(04)
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[10]顾连学,乐安全,谷英梅,江立人,韩发生,林金锌.精密钛涂层测厚仪[J]核技术.1988,(04)
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