|
[1]乐安全,韩发生,徐君权,朱节清,谷英梅.金镀层测厚仪[J]核技术.1985,(09)
|
|
[2]徐君权,乐安全,韩发生,朱节清,谷英梅.X射线荧光钛涂层厚度测量仪[J]核电子学与探测技术.1986,(01)
|
|
[3]徐君权,乐安全,韩发生.环氧封接铍窗正比计数管的寿命[J]核电子学与探测技术.1986,(04)
|
|
[4]朱节清,乐安全,谷英梅,韩发生.用计算机程序来计算复合镀层厚度[J]核技术.1986,(01)
|
|
[5]乐安全,江立人,顾连学,徐君权,韩发生,谷英梅,林金锌.手表零件镀层测厚仪[J]核技术.1986,(12)
|
|
[6]顾连学,乐安全,谷英梅,江立人,韩发生,林金锌.精密钛涂层测厚仪[J]核电子学与探测技术.1988,(04)
|
|
[7]顾连学,乐安全,谷英梅,江立人,韩发生,林金锌.精密钛涂层测厚仪[J]核技术.1988,(04)
|
|
[8]乐安全,林金锌,朱节清,谷英梅,顾连学,韩发生,徐君权,王裕政,王志芳.XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪[J]核技术.1991,(09)
|
|
更多
|