沈火根
【姓名】 沈火根
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 复电容,界面态,参数测量,禁带,俘获截面,MOS结构,测量频率,掺杂浓度,界面陷阱,标准电容,界面态密度,虚部,P型,态密度,陷饼,实部,测量原理,并联表,俘获系数,边交换,
【工作单位】 上海科技大学
【曾工作单位】 上海科技大学;
【所在地域】
今年新增/文献篇数 核心期刊论文数 基金论文数 第一作者篇数 总被引频次 总下载频次
0/1 0 0 0 0 70
中国期刊全文数据库    共找到1篇
[1]赵冷柱,沈火根,甘蓓.MOS界面态参数测量的复电容方法[J]半导体技术.1985,(06)
更多