漆璿
【姓名】 漆璿
【职称】 教授;
【研究领域】 材料科学;金属学及金属工艺;物理学;
【研究方向】 X射线衍射分析及形状记忆合金、薄膜等材料研究工作
【发表文献关键词】 层错几率,FeMnsi基形状记忆合金,NiTi,X射线衍射线形分析,合金薄膜,形状记忆,伪弹性,薄膜,取向分布函数,形状记忆合金,织构,X衍射线形,FeMnSi,高温测试,国家教育部,镍钛合金,高温材...
【工作单位】 上海交通大学
【曾工作单位】 上海交通大学;
【所在地域】 上海
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[1]漆璿,张榴凤,杨于兴,韩立新,周晓岚.三种高钢级油井管温矫温度特性的研究[J]金属热处理.2000,(01)
[2]吴廷斌,漆璿,王文杰,董荆山,江伯鸿,王莉,蔡炳初.NiTi形状记忆合金薄膜的残余应力[J]上海交通大学学报.2001,(02)
[3]吴廷斌,漆璿,王文杰,董荆山,江伯鸿,王莉,蔡炳初.NiTi形状记忆合金薄膜的残余应力[J]上海交通大学学报.2001,(03)
[4]董荆山,江伯鸿,吴廷斌,漆璿,刘毓舒.织构对NiTi合金相变伪弹性的影响及其计算机模拟[J]上海交通大学学报.2001,(03)
[5]周伟敏,江伯鸿,刘岩,漆璿,挂下知行,佐分利敏雄.CoMn合金中的马氏体相变和形状记忆效应[J]上海交通大学学报.2001,(05)
[6]吴廷斌,江伯鸿,漆璿.NiTi形状记忆薄膜的应用及进展[J]中国有色金属学报.2001,(S2)
[7]刘岩,江伯鸿,周伟敏,漆璿.Co-Ni磁控形状记忆合金的相变及显微结构[J]功能材料.2002,(01)
[8]漆璿,江伯鸿,徐祖耀.FeMnSi基合金中层错几率的X衍射线形分析法测定[J]理化检验(物理分册).1998,(02)
[9]王张敏;李戈扬;漆璿;李鹏兴;.X射线衍射-拉伸法测薄膜应力[J]物理测试.1993,(04)
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中国重要会议全文数据库    共找到3篇
[1]刘岩;周伟敏;江伯鸿;漆璿;.磁控形状记忆合金[A].第四届中国功能材料及其应用学术会议论文集.2001-10-01
[2]吴廷斌;江伯鸿;漆璿;刘毓舒;王莉;徐东;.带基板NiTi薄膜的应力状态及微观组织[A].第四届中国功能材料及其应用学术会议论文集.2001-10-01
[3]刘岩;艾飞;王锦昌;冯楚德;周伟敏;漆璿;江伯鸿;.Co-Ni单晶的温控与磁控形状记忆效应[A].中国硅酸盐学会2003年学术年会论文摘要集.2003-06-30
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